Neste trabalho, aplicamos o método de busca global Fast Simulated Annealing (FSA) ao problema de determinação estrutural de superfícies via Difração de Fotoelétrons. A implementação do algoritmo foi testada em uma comparação teria-experimento para o sistema Ir(111). Além disso, confrontamos o desempenho do método FSA com o Classical Simulated Annealing para diferentes temperaturas iniciais do algoritmo Metrópolis.