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Neste trabalho foi estudado a síntese de óxido de grafeno em diferentes condições de temperatura, assim como analisado os materiais obtidos através da microscopia eletrônica de varredura (MEV), microscopia de varredura Confocal, difração de raio X (DRX) e técnicas espectroscópicas (FTIR). O método de Hummers modificado foi utilizado para a obtenção do óxido de grafite a partir de uma amostra comercial de grafite. O efeito da temperatura utilizada na síntese do óxido de grafite foi estudado. As temperaturas estudadas foram 25 °C e 50 °C, com um tempo de reação de 16 horas. Ambas as amostras foram caracterizadas por FTIR, onde apresentaram bandas referentes às ligações O-H e C-H (3250 cm^-1), e bandas referentes às ligações C=O (1700-1600 cm^-1) e ligações simples (1000 cm^-1), enquanto que a amostra de grafite não apresentou bandas relevantes, podendo evidenciar seu grau de pureza. Os resultados de MEV das amostras de óxido de grafite apresentaram uma estrutura expandida de óxido de grafite, de forma que pode estar relacionada à oxidação do grafite, que anteriormente apresentava morfologia de placas compactas. Por fim, o resultado do DRX revelou o aumento de espaçamento basal das amostras de óxido de grafite, de maneira que a amostra sintetizada a 50 °C apresentou distância interplanar equivalente a 9,60 Å e a amostra sintetizada a 25 °C apresentou valor de 10,02 Å.